K-Kit

液態樣品電子顯微鏡觀測 (K-Kit / TEM)

奈米科技產品已廣泛進入我們的生活當中。近期歐美各國也陸續著手進行奈米科技相關產品標示與審查之法規制定,強調對最終產品進行完整物理化學特性分析的必要性。我們開發的專利新型電子顯微鏡液態樣品槽技術應用於觀測奈米產品中個別成份奈米顆粒之(i)種類、(ii)形狀分布、(iii)粒徑分布、(iv)顆粒聚集/團集狀態及、(v)顆粒濃度, 提供您符合法規趨勢的完整奈米顆粒形態定量分析結果。

バイオマーテックK-Kit イメージ画像01

液態樣品槽利基

方便: 可裝載於所有電子顯微鏡
簡單: 液態樣品直接取樣,符合最終產品觀測、奈米標示需求
全面: 液態樣品中奈米顆粒型態分析與定量,符合ISO/TR13014 精神

液態樣品槽 vs.傳統銅網

バイオマーテックK-Kit イメージ画像02

儀器方法

1.K-kit sample preparation: 微晶片樣品槽進行樣品製備
2.TEM (transmission electron microscopy): 穿透式電子顯微鏡

奈米科技相關產品檢測分析應用實例

バイオマーテックK-Kit イメージ画像03

技術專利與論文發表

Patent:

  1. Liu, K.L., Yew, T.R. "Specimen Kit and Fabricating Method Thereof" US7,807,979 B2, Oct. 5, 2010
  2. Hsieh, Y.F., Chu, C.H., Sharma, P., Ko, Y.F., Yang, C.S., Tai, L. A., Chen, Y.C. "Specimen Preparation for TEM" US(USPTO) filed on 2012/07/09 with filing number: 13/544,019;Taiwan (ROC) filed on 2012/08/31 with filing number: 101131762.2.
  3. Hsieh, Y.F., Chu, C.H., Sharma, P., Ko, Y.F., Yang, C.S., Tai, L. A., Chen, Y.C., Ting, H.-C., "Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy" PCT filed on 2013/07/08 with filing number: PCT/US2013/049595

Paper:

  1. Liu, K.L., Wu, C.C., Huang, Y.J. Peng, H.L., Chang, H.Y., Chang, P., Hsu, L., Yew, T.R., "Novel microchip for in situ TEM imaging of living organisms and bio-reactions in aqueous conditions" , Lab Chip, 8, 1915-1921 (2008)

Tai, L.A.,Kang, Y. T., Chen, Y. C., Wang, Y. C., Wang, Y. J., Wu, Y. T., Liu, K. L., Wang, C. Y., Ko, Y. F., Chen, C. Y., Huang, N. C., Chen, J. K., Hsieh, Y. F., Yew, T. R., Yang, C.S., "Quantitative Characterization of Nanoparticles in Blood by Transmission Electron Microscopy with a Window-Type Microchip Nanopipet" , Analytical Chemistry, 84, 6312-6316 (2012)

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