電流-電圧計測

方式

本分析サービスの目的は半導体素子の電気特性計測にあり、電流-電圧(I-V)、静電容量-電圧(C-V)、
コンデンサー、誘導子、等の特性を測定致します。

MA-tekは又必要に応じてFIBを使用し、半導体素子にプローバーを装着し、
半導体個別素子の電気的測定サービスも提供します。

この測定の目的は半導体素子の、電流-電圧(I-V)、静電容量-電圧(C-V)、曲線、抵抗、コンデンサー、誘導子、
などの個々の電気的特性を明らかにすることによる素子の特定にありますが、
MA-tekは又必要に応じてFIBを使用し、半導体素子にプローバーを装着し、
半導体個別素子の電気的測定サービスも提供します。

対応装置

HP4156C(Semiconductor Parameter Analyzer)
HAMAMATSU PHEMOS-1000

HP3325A(Signal/Function Generator)
HAMAMATSU PHEMOS-1000

HP4275A(LCR Meter)
HAMAMATSU PHEMOS-1000

Tektronix 370A(High power programble curve tracer)
HAMAMATSU PHEMOS-1000

暗箱内に載置したSOC ICにプローバーをつなぎ、AND/OR試験

応用

LEDや太陽電池の暗電流測定等の微小漏洩計測、CMOS、BJT、BiCMOSなど半導体定数の計測やSpice定数の計測、
ショート、断線テスト、C-V、誘導子、半導体のDC/AC計測など。


  • NMOS Vds-Ids characteristic curves

  • PMOS Vds-Ids characteristic curves

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