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分析サービス
 
MA-tekは、各種先端材料の物性解析から、総合的なデバイス不良解析(電気特性〜物理解析)まで、広範にわたる分析サービスを提供させていただいておりますが、日本国内のお客様に対しましては、特に、以下3つのサービスをメインに、日常より様々な需要に応えさせていただいております。
TEM
 

Transmission Electron Microscope

SIMS
 

Secondary Ion Mass Spectrometry

Reverse Engineering
 

IC Imaging

Revserse Engineering
SEM / Sample preparation
 
Scanning Electron Microscopy  
Sample preparation ・Mechanical Polishing

FIB Precision Cutting

FIB
 

FIB Analysis 

ESD
 

ESD Testing & Design Service  

RA / RT
 

Reliability Testing 

Bonding / Packaging
 

Packaging / Bonding  

EFA
 
Decap / Delayer   ・Decap by chemical wet etching
・Decap by laser etching
・Delayer (chemicaldry etching and polish)
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EMMI

 

OBIRCH  
InGaAs  
C-AFM  
 
 
       

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